24 сентября, 2018 | 13:24
31 октября, 2014 | 18:47
Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герлом Биннингом и Кристофом Гербером в США. Атомно-силовой микроскоп применяется для снятия профиля
31 октября, 2014 | 8:41
Cтилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является
30 октября, 2014 | 20:24
Сканирующий интерференционный микроскоп белого света NewView 5022 – это универсальный прибор для трёхмерного анализа геометрической структуры поверхности различных объектов, изготовленных из
16 октября, 2014 | 5:18
NanoTest-600 – это новейшая, мощная модульная платформа, созданная специально для тестирования, определения характеристик, исследования и разработки материалов в нано- и