Анализ поверхности

Атомно-силовой микроскоп Nanosurf Easyscan

Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герлом Биннингом и Кристофом Гербером в США. Атомно-силовой микроскоп применяется для снятия профиля

Стилусный профилометр Alpha-Step

Cтилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является

Интерферометр Zygo New View 5022

Сканирующий интерференционный микроскоп белого света NewView 5022 – это универсальный прибор для трёхмерного анализа геометрической структуры поверхности различных объектов, изготовленных из

NanoTest-600

NanoTest-600 – это новейшая, мощная модульная платформа, созданная специально для тестирования, определения характеристик, исследования и разработки материалов в нано- и