Атомно-силовой микроскоп Nanosurf Easyscan

Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герлом Биннингом и Кристофом Гербером в США. Атомно-силовой микроскоп применяется для снятия профиля

Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Герлом Биннингом и Кристофом Гербером в США. Атомно-силовой микроскоп применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности.

 

В основе работы атомно-силовых микроскопов лежит использование различных видов силового взаимодействия зонда с поверхностью, а не эффекта туннелирования. АСМ названы так, поскольку с их помощью регистрировались силы межатомного взаимодействия, так называемой силы ближнего поля. Для их регистрации используются специальные зондовые датчики, представляющие собой упругую консоль с острым зондом на конце. Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли. Регистрируя величину изгиба консоли можно контролировать силу взаимодействия зонда с поверхностью.

Основные параметры сканирования

  • Максимальная область сканирования 10мкм
  • Максимальная глубина сканирования 1.8 мкм
  • Z Разрешение сканера   0.027 нм
  • XY Разрешение сканера 0.15 нм
  • XY средняя линейная ошибка < 0.1%
  • Уровень шума по Z 0.07нм
Яндекс.Метрика