Корреляция данных сканирующей зондовой микроскопии с физико-механическими свойствами силоксановых композитов

Валиев Х.Х.1
ИПРИМ РАН1

Аннотация. Методом атомно — силовой микроскопии исследованы особенности распределения микро и наноразмерных наполнителей в силоксановых матрицах. Установлена корреляция полученных данных с физико — механическими свойствами этих композитов.