http://iam.ras.ru/wp-content/themes/iam-neo
Диплом Федеральной службы по интеллектуальной собственности,

Диплом Федеральной службы по интеллектуальной собственности, патентам и товарным знакам по совокупности разработок, представленных на 14-м Международном форуме и выставке “Высокие технологии ХХI века” (ЦВК «Экспоцентр» г. Москва с 24 по 26 апреля 2013 г.)