Стилусный профилометр Alpha-Step

Cтилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является

Cтилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является идеальной для экспериментальных линий производств и изучения новых материалов.

Благодаря высокой повторяемости при измерении вертикальных ступенек на образце (7,5 ангстрем или 0,1% от номинальной величины) и суб-ангстремному разрешению сканирования Alpha-Step IQ позволяет добиваться отличной воспроизводимости измерений и иметь в распоряжении мощные инструменты управления и мониторинга процессов сканирования.

Стилусный профилометр Alpha-Step IQ предоставляет собой двухкоординатную установку для исследования топографии широкого спектра поверхностей в том числе слоистых материалов, микроэлектромеханических систем, керамических материалов,  миниатюрных линз, жестких дисков и дисплеев. Профилометры представленного поколения имеют в своем арсенале значительно более быстрый и производительный процессор, чем устройства предыдущего поколения, что позволяет применять Alpha-Step IQ для сетевой работы и подключать его через интерфейс USB.

Преимущества Alpha-Step IQ:

  • Расширенные возможности для анализа 2D топографии;
  • Удобная система позиционирования на образце;
  • Отличная воспроизводимость результатов исследования;
  • Высокая точность определения толщины тонких пленок и покрытий, микронеровностей поверхности, определение несплошности и нарушений регулярности покрытий из тонких пленок;
  • Широкий диапазон измерений по вертикали – позволяет проводить исследование поверхности с значительным перепадом высот рельефа – проводить макроанализ поверхности;
  • Возможность анализа “по шаблону”, предварительно загруженному пользователем;
  • Визуализация хода измерений и возможность полного контроля над каждой стадией;

Основные области применения:

  • Исследование толщины поверхностных пленок;
  • Определение глубины травления;
  • Микроэлектромеханические системы;
  • Оптоэлектроника;
  • Исследование керамических материалов;
  • Промышленная обработка материалов;
  • Хранение данных.